KDE│事例案内│液晶ガラス・PDPガラス検査システム・å„種光å¦ç³»ã«å¯¾å¿œ モアレ縞方å¼ã«ã‚ˆã‚‹å…‰å¦æªã¿ã«ã‚ˆã‚‹æ¬ 陥検出（最å°20μmå¹…ã®ã‚¢ãƒ¯ã¾ã§æ¤œå‡ºï¼‰ 特殊ãªé€éŽå…‰ã«ã‚ˆã‚‹ã‚ã‚ºæ¬ é™¥æ¤œå‡ºï¼ˆæœ€å°50nmå¹…ã®ã‚ズã¾ã§æ¤œå‡ºï¼‰ é€éŽå…‰ã¨åå°„å…‰ã®çµ„ã¿åˆã‚ã›ã«ã‚ˆã‚‹è¡¨è£è˜åˆ¥ ・20μm分解能ã§ã€ç¬¬8ä¸–ä»£ç´ æ¿ã‚¬ãƒ©ã‚¹ã¾ã§å¯¾å¿œå¯èƒ½ ・MAX：64å°ã®ãƒ©ã‚¤ãƒ³ã‚»ãƒ³ã‚µãƒ¼ã‚«ãƒ¡ãƒ©ã¾ã§å¯¾å¿œå¯èƒ½ ・最新é‹ã®CPU採用ã¨ç‹¬è‡ªé–‹ç™ºã®ã‚½ãƒ•ãƒˆã«ã‚ˆã‚Šã€é«˜é€Ÿç”»åƒå‡¦ç†ã‚’å®Ÿç¾ ãƒ»MAX：1GB/Sã®ç”»åƒå‡¦ç†èƒ½åŠ›ã«ã‚ˆã‚Šã€ã‚¬ãƒ©ã‚¹1æžšã«35GBã®ç”»åƒå‡¦ç†ã‚’å®Ÿç¾ ãƒ»ã‚«ãƒ¡ãƒ©ã®è¦–野通éŽå¾Œ5秒以内ã«åˆ¤å®šå‡¦ç†ã‚’çµ‚äº†ï¼ˆæ¬ é™¥æ•°10個以内ã®å ´åˆï¼‰ ・検査対象物ã”ã¨ã®ã‚«ã‚¹ã‚¿ãƒžã‚¤ã‚ºå¯¾å¿œå¯èƒ½ ・オンライン時ã«ä¸Šä½PLCã‹ã‚‰ãƒ‡ãƒ¼ã‚¿ã‚’ãƒãƒ¼ãƒ‰ã—ã€è£½å“別ã«åˆ¤å®šåŸºæº–ã‚’è¨å®šå¯èƒ½ ・検査範囲マスク機能ã«ã‚ˆã‚Šå¯¾è±¡æ¤œæŸ»ç¯„囲をè¨å®šã—ã€æ¤œæŸ»ãƒã‚°ãƒ•ã‚¡ã‚¤ãƒ«ä½œæˆãŒå¯èƒ½ ・オフラインå–ã‚Šè¾¼ã¿æ©Ÿèƒ½ã«ã¦ã€å–り込んã 元画åƒã‚ˆã‚Šæ¬ 点部分ã®æ‹¡å¤§ã€è§£æžãŒå¯èƒ½ ・レビュ
Taiyoele
DENKEN Co.,Ltd.::事æ¥æƒ…å ±::外観検査å—託サービス
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http://homepage1.nifty.com/aimec/semilab/semilab.htm
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