Androidテストç¥ã‚Šã‚¹ãƒžãƒ¼ãƒˆãƒ•ã‚©ãƒ³ã§ãƒ†ã‚¹ãƒˆã‚’楽ã—ã‚€ãŸã‚ã®æŠ€è¡“ - from ATEC æ¥ãŸã‚‹8月6æ—¥(土)ã«Androidã®ãƒ†ã‚¹ãƒˆãƒŽã‚¦ãƒã‚¦ã®å…±æœ‰ã‚’目的ã¨ã—ã¦ã€Androidテストç¥ã‚Š を開催ã—ã¾ã™ã€‚ 2011å¹´6月ç¾åœ¨ã€æ—¥æœ¬ã§ã¯æ—¢ã«50機種ã‚ã¾ã‚Šã®Android端末ãŒç™ºå£²ã•ã‚Œã¦ã„ã¾ã™ã€‚年内ã®ç™ºå£²äºˆå®šã®ç«¯æœ«ã‚’å«ã‚ã‚‹ã¨æ—¥æœ¬å›½å†…ã§ç™ºå£²ã•ã‚Œã‚‹Android端末ã¯75種類ã«ã‚‚ã®ã¼ã‚Šã¾ã™(*1)。端末ã®æ™®åŠã«ä¼´ã„ã€Android対応アプリケーションも目覚ã—ã„å‹¢ã„ã§å¢—åŠ ã—ã¦ã„ã¾ã™ã€‚ ã—ã‹ã—ã€ãã®ä¸€æ–¹ã§ã€å…¬é–‹ã•ã‚Œã¦ã„るアプリケーションã®å“質低下やAndroid特有ã®æ©Ÿèƒ½ã®ãŸã‚ã€ã“ã‚Œã¾ã§ã®Javaã®ãƒ†ã‚¹ãƒˆæ‰‹æ³•ãŒä½¿ãˆãªã„ã¨ã„ã£ãŸæ‚©ã¿ã‚’多ãèžãよã†ã«ãªã‚Šã¾ã—ãŸã€‚ ã‚‚ã†å°‘ã—具体的ãªå•é¡Œã‚’下記ã«è¨˜è¼‰ã—ã¦ã¿ã¾ã—ょã†ã€‚ 端末ã®ãƒ•ãƒ©ã‚°ãƒ¡ãƒ³ãƒ†ãƒ¼ã‚·ãƒ§ãƒ³å•é¡Œã«ã‚ˆã‚Šã€ãƒ†ã‚¹ãƒˆãŒå›°é›£ センサーを利用ã™ã‚‹ã‚¢ãƒ—リã®ãƒ†ã‚¹ãƒˆã®è‡ªå‹•åŒ–ãŒå›°é›£ Intent関連ã®ãƒ†
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