ＳＰＩ試験å•é¡Œã€€ã€å®Œå…¨å¯¾ç–】～ＳＰＩ２対応～能力検査ã¯IRT（Item Response Theoryï¼šé …ç›®åå¿œç†è«–）方å¼ãŒæŽ¡ç”¨ã•ã‚Œã¦ãŠã‚Šã€å•é¡Œæ•°ãƒ»é›£æ˜“度ãŒå—検者ã«ã‚ˆã£ã¦å¤‰ã‚ã‚Šã¾ã™ã€‚ ç°¡å˜ã«èª¬æ˜Žã™ã‚‹ã¨ã€ã€æ£è§£ â–¶ より難ã—ã„å•é¡Œã‚’出題】ã€ä¸æ£è§£ â–¶ より簡å˜ãªå•é¡Œã‚’出題】を繰り返ã—ã€ã‚ˆã‚Šå—検者ã®èƒ½åŠ›ã‚’æ£ç¢ºã«æ¸¬å®šã™ã‚‹ã‚·ã‚¹ãƒ†ãƒ ã§ã™ã€‚ ã€STEP2】能力検査ã®å¯¾ç–方法 é©æ€§æ¤œæŸ»è‡ªä½“ã«ã€Œæœ¬æ¥ã®èƒ½åŠ›ã‚’æ£ã—ã測定ã™ã‚‹ã“ã¨ã€ãŒæ±‚ã‚られるãŸã‚ã€ä¸€éƒ¨ã®å‡ºé¡Œç¯„囲ã¯å¯¾ç–ãŒé›£ã—ããªã£ã¦ã„ã¾ã™ã€‚ 例ãˆã°ã€Œé•·æ–‡èªè§£ã€ã€Œè¡¨ã®èªã¿å–ã‚Šã€ç‰ã®åˆ†é‡Žã¯ã€Žæ–‡ç« ã‚’èªã‚€ã‚¹ãƒ”ードã€ã€Žä¸€æ™‚çš„ãªè¨˜æ†¶åŠ›ï¼ˆ=ワーã‚ングメモリ）ã€ãŒå•ã‚れるãŸã‚ã€ã‹ãªã‚Šå¯¾ç–ãŒé›£ã—ã„傾å‘ãŒã‚ã‚Šã¾ã™ã€‚ ã—ã‹ã—「語å¥ã®ç”¨æ³•ã€ã€Œå ´åˆã®æ•°ã€ã€Œé›†åˆã€ã¯ã€ŽçŸ¥è˜ã€ã€Žæ•°å¦çš„ãªè€ƒãˆæ–¹ã€ã«é–¢ã™ã‚‹å†…容ãªã®ã§ã€ç©ã¿é‡ãã§å¯¾å¿œã§ãã¾ã™ã€‚ 「対ç–ã§ãる分野ã€ã¨ã€Œå¯¾ç–ã—ã«ãã„分野ã€ã‚’ã—ã£ã‹ã‚Šåˆ‡ã‚Šåˆ†ã‘ã€åŠ¹çŽ‡çš„ã«å¯¾ç–ã‚’è¡Œã„ã¾ã—ょã†ã€‚ 最もç†
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