FESEM field emission SEM
走査型電子顕微鏡
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出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2023/02/26 21:40 UTC 版)
走査型電子顕微鏡(そうさがたでんしけんびきょう、英語: scanning electron microscope、SEM)は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM(走査型透過電子顕微鏡)と呼ばれる。
- 1 走査型電子顕微鏡とは
- 2 走査型電子顕微鏡の概要
- 3 利用
- 4 外部リンク
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