バーストノイズ
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バーストノイズは半導体や極薄ゲート酸化膜で生じる電子ノイズの一種[1]。ポップコーンノイズ、インパルスノイズ、双安定ノイズ、ランダム・テレグラフ・ノイズ (RTS)とも呼ばれる。
- ^ Ranjan, A. (2016-04-01). “CAFM based spectroscopy of stress-induced defects in HfO2 with experimental evidence of the clustering model and metastable vacancy defect state”. 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS): 7A–4–1-7A-4-7. doi:10.1109/IRPS.2016.7574576 .
- ^ “Random Telegraph Signal (Review of Noise in Semiconductor Devices and Modeling of Noise in Surrounding Gate MOSFET)”. 2006年4月14日時点のオリジナルよりアーカイブ。2017年11月閲覧。
- ^ “Operational Amplifier Noise Prediction”. 2017年11月閲覧。
- ^ “Noise Analysis In Operational Amplifier Circuits”. 2017年11月閲覧。
- ^ “Noise Sources in Bulk CMOS”. 2017年11月閲覧。
- ^ “Op-Amp Noise can be Deafening Too”. 2017年11月閲覧。 “Today, although popcorn noise can still occasionally occur during manufacturing, the phenomenon is sufficiently well understood that affected devices are detected and scrapped during test.”
- 1 バーストノイズとは
- 2 バーストノイズの概要
バーストノイズ
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「ノイズ (電子工学)」の記事における「バーストノイズ」の解説
詳細は「バーストノイズ」を参照 バーストノイズは、2つかそれ以上のレベル間で(ガウス雑音的でない)突然のステップ状の遷移が起きるもので、その差は数百ミリボルト程度であり、無作為かつ予測不能なタイミングで発生する。オフセット電圧またはオフセット電流のシフトは数ミリ秒続き、そのパルスの間隔は低周波の範囲内(100Hz未満)ということが多い。そのため、音響回路でパチパチいう破裂音として現れポップコーン・ノイズとも呼ばれる。
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