なひたふJTAG日記

永き眠りを経て、半導体真贋判定装置「シンIC」の開発を再開します。

2023年に開発したシンICの装置は、検査の速度が遅いという問題がありました。

今の装置でも数個程度の検査なら構わない（セットアップの手間と時間のほうがかかるので、１個あたりのランタイムは気にならない）のですが、100個とか200個といった単位でICを検査する場合には実行時間を短くしなければなりません。

そこで、100倍の高速化を目指してコントロール装置を全面的に作り直すことにしました。

（ほかにも安全対策とか、いろいろな目的がある）

まずは設計の感覚を取り戻すためにもType-A用デバッグ基板の設計を行います。

たしか、最初に１辺の配置をして・・

コピペするんだったかな・・

そんなこんなで設計できました。

この基板は中継基板から上がってくる360個の信号をLEDに表示するというものです。

作っているうちにだんだん感覚を取り戻してきました。

年内に何か成果をだせるかな？