LRCとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 水平冗長検査文字
「LRC」を含む例文一覧
該当件数 : 14件
CRC(cyclic redundancy checking) is a more powerful method of block checking than LRC発音を聞く 例文帳に追加
CRCは,LRC(水平冗長検査)よりも強力なブロック検査手段である - コンピューター用語辞典
From LSI layout design data 601, resistance, capacitance and inductance of power source wiring are extracted and a power source LRC model 606 is created.例文帳に追加
LSIレイアウト設計データ601から電源配線の抵抗、容量、インダクタンスを抽出し電源LRCモデル606を作成する。 - 特許庁
To provide a capacitance sensor for nondestructive inspection employing a capacitor of a simple LRC circuit as a probe.例文帳に追加
簡便なLRC回路のコンデンサをプローブとする非破壊検査用キャパシタンスセンサを提供する。 - 特許庁
To provide an LRC method and a device used for casting a metal slab consisting of amorphous materials, super-microcrystalline materials, microcrystalline materials, and fine particles, or metals in other forms.例文帳に追加
非晶質、超微結晶質、微結晶質及び微粒子から成る金属スラブあるいは他形状金属の鋳造に用いられるLRC法および装置を提供する。 - 特許庁
The final part of the data is held in a 1st data buffer 208 lest data transfer is finished before checking of compatibility is finished at an LA/LRC check circuit 207.例文帳に追加
そしてLA/LRCチェック回路207にて整合性のチェックが終了するまではデータ転送が終了しないように、データの最終部分をラストデータバッファ208に保留しておく。 - 特許庁
To provide a method, device and program for designing a semiconductor integrated circuit, capable of reducing the time required for determination and correction of error in LRC (lithography rule check).例文帳に追加
LRCにおけるエラーの判定、修正に要する時間を削減することが可能な半導体集積回路の設計方法、設計装置並びに設計用プログラムを提供する。 - 特許庁
In the capacitance sensor for nondestructive inspection, a power supply and the capacitor C2 of the LRC circuit connected to the power supply are used as a probe of a measuring object.例文帳に追加
非破壊検査用キャパシタンスセンサにおいて、電源と、この電源に接続されるLRC回路のコンデンサC2を測定対象物のプローブとする。 - 特許庁
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Wiktionary英語版での「LRC」の意味 |
LRC
固有名詞
LRC
- (Ireland) Initialism of Labour Relations Commission.
- (Britain) Initialism of Labour Representation Committee.
Weblio例文辞書での「LRC」に類似した例文 |
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「LRC」を含む例文一覧
該当件数 : 14件
An analysis model creating means 812 connects the power source LRC model 606, a transistor circuit model 610, a noise source model 607, a silicon substrate model 608, a static power capacitance model 609, and a package/board model 611 so as to create a power source noise analysis model 813 and a jitters analysis model 817.例文帳に追加
解析モデル作成手段812は、これにトランジスタ回路モデル610、ノイズ源モデル607、シリコン基板モデル608、静電容量モデル609、パッケージ/ボードモデル611を接続し、電源ノイズ解析用モデル813とジッタ解析用モデル817を作成する。 - 特許庁
To secure reliability when controlling data input/output by achieving block data protection (LA/LRC(Longitudinal Redundancy Check)) and Cache dual write of (user data, control data), in a storage control apparatus having a battery backup memory being an integration of CS/DS (Code Storage/Data Storage) and a cache.例文帳に追加
CS/DSキャッシュ統合のバッテリバックアップメモリを備えたストレージ制御装置において、ブロックデータ保護(LA/LRC)、Cache二重書き(ユ一ザデータ、制御データ)を実現し、データ入出力の制御時の信頼性を確保する。 - 特許庁
Further, when a defective block which needs a new alternative block is found in the filled-up state of a spare area, an LRC bit is set in the SDL entry together with the position information of the defective block so as to indicate the creation of a corresponding SDL entry when there is no room in the spare area.例文帳に追加
さらに、スペア領域がいっぱいである状態で、新しい代替ブロックを必要とする欠陥ブロックが見つかったときは、スペア領域に空きがなくなったときに対応するSDLエントリが作成されたことを示すように、欠陥ブロックの位置情報と共にLRCビットがSDLエントリに設定される。 - 特許庁
By adding linear replacement control (LRC) bits to an SDL (secondary defect list) entry in order to distinguish defective block information listed in the SDL entry according to a linear replacement algorithm from defective block information listed in the SDL according to a skipping algorithm, the optical recording medium recording/reproducing device transmits correct information to a host.例文帳に追加
リニア交替アルゴリズムに従ってSDLエントリにリストされた欠陥ブロック情報と、スキッピング・アルゴリズムに従ってSDLエントリにリストされた欠陥ブロック情報とを区別するために、リニア交替制御(LRC)ビットを2次欠陥リスト(SDL)エントリに追加し、これによって光記録媒体記録/再生装置が、ホストに正しい情報を送信できるようにする。 - 特許庁
Further, when a defective block which needs a new alternative block is found while data is recorded or reproduced in the filled-up state of a spare area, an LRC bit is set in the SDL entry together with the position information of the defective block so as to indicate the creation of a corresponding SDL entry when there is no room in the spare area.例文帳に追加
さらに、スペア領域がいっぱいである状態でデータの記録または再生を実行している間に、新しい代替ブロックを必要とする欠陥ブロックが見つかったときは、スペア領域に空きがなくなったときに対応するSDLエントリが作成されたことを示すように、欠陥ブロックの位置情報と共にLRCビットがSDLエントリに設定される。 - 特許庁
Furthermore, when a defective block requiring a new replacement block is found while recording or playback data when spare area is full, instead of carrying out linear replacement, the LRC bit is set in the SDL entry along with the location information of the defective block so as to indicate that the corresponding SDL entry is made when the spare area is full.例文帳に追加
さらに、スペア領域がいっぱいである状態でデータの記録または再生を実行している間に、新しい代替ブロックを必要とする欠陥ブロックが見つかったときは、リニア交替を実行するのではなく、スペア領域に空きがなくなったときに対応するSDLエントリが作成されたことを示すように、欠陥ブロックの位置情報と共にLRCビットをSDLエントリに設定する。 - 特許庁
Furthermore, when a defective block requiring a new replacement block is found while recording or reproducing data when spare area is full, the LRC bit is set in the SDL entry along with the location information of the defective block so as to indicate that the corresponding SDL entry is made when the spare area is full.例文帳に追加
スペア領域がいっぱいである状態でデータの記録または再生を実行している間に、新しい代替ブロックを必要とする欠陥ブロックが見つかったときは、スペア領域に空きがなくなったときに対応するSDLエントリが作成されたことを示すように、欠陥ブロックの位置情報と共にLRCビットがSDLエントリに設定される。 - 特許庁
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