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障壁電極型の英語
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「障壁電極型」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 21件
電界効果型化合物半導体装置及びその製造方法に関し、ゲート電極の電位障壁の温度変動を効果的に低減する。例文帳に追加
To effectively reduce temperature fluctuations in the potential barrier of a gate electrode in a field effect compound semiconductor device and its manufacturing method. - 特許庁
n型シリコンからなる基板1に対して、Al_2O_3からなる第1の障壁層4、SiをドープしたAl過剰のAl_2O_3からなる電荷蓄積層5、Al_2O_3からなる第2の障壁層6、n型ポリシリコンからなるゲート電極7を順次積層して構成する。例文帳に追加
The semiconductor memory is manufactured by laminating a first barrier layer 4 formed of Al_2O_3, a charge storage layer 5 formed of Al-excessive Al_2O_3 with Si doped, a second barrier layer 6 formed of Al_2O_3, and a gate electrode 7 formed of n-type polysilicon in this order on a substrate 1 formed of n-type silicon. - 特許庁
ショットキー障壁型MOS FET の製造において、ソース/ドレイン構造を形成した後にゲート電極およびゲート絶縁膜を作成するダマシンゲートプロセスをショットキー障壁型MOS FET に適用することにより、ゲート電極やゲート絶縁膜が高温の熱処理を受けないようにして、ゲート電極やゲート絶縁膜を構成する金属および金属酸化物が劣化するのを防止する。例文帳に追加
In manufacturing the Schottky barrier MOSFET, a damascene gate process for forming a gate electrode and a gate insulating film after a source/drain structure is formed is applied to the Schottky barrier MOSFET, so that the gate electrode and the gate insulating film may not be received with a high temperature heat treatment to thereby prevent the deterioration of the metal and the metal oxide for constituting the gate electrode and the gate insulating film. - 特許庁
GaN系HFETにおけるソースおよびドレイン領域下に、障壁層の存在する障壁層介在型リセスゲート構造において、ソースおよびドレイン電極からチャネルヘのアクセス抵抗の大幅な低減を可能とする、オーミックコンタクト構造およびGaN系HFETを提供する。例文帳に追加
To provide a GaN HFET and an ohmic contact structure capable of drastically reducing access resistance from source and drain electrodes to a channel in a barrier layer inclusive type recess gate structure in which a barrier layer exists under source and drain regions in the GaN HFET. - 特許庁
LED構造は、基板200と、発光エピタキシャル構造204,210,212と、第1の導電型接触層214と、第2の導電型接触層216と、透明絶縁層218と、第1の反射層226と、第2の反射層230と、第1の障壁層228と、第2の障壁層232と、第1の導電型電極234と、第2の導電型電極236とを備える。例文帳に追加
The LED structure comprises: a substrate 200; emission epitaxial structures 204, 210, and 212; a first conductive contact layer 214; a second conductive contact layer 216; a transparent insulation layer 218; a first reflective layer 226; a second reflective layer 230; a first barrier layer 228; a second barrier layer 232; a first conductive electrode 234; and a second conductive electrode 236. - 特許庁
CCDは、第1層及び第2層電荷転送電極11、12と、第1層電荷転送電極11の下に配置される電荷蓄積層(N型ウエル)及び第2電荷転送電極12の下に配置される障壁層(N^-型ウエル)からなる転送チャネル17と、一対の配線41、42とを有する。例文帳に追加
The CCD has first and second layer charge transfer electrodes 11, 12, a transfer channel 17, made of a charge storage layer (N-type well) disposed underneath the electrode 11 and a barrier layer (N^--type well) disposed underneath the electrode 12, and a pair of wirings 41, 42. - 特許庁
ゲート電極15に対応してAp型lGaAsよりなるp型層26aを第1の障壁層24に埋め込んで形成し、p型GaAsよりなるp型コンタクト層26bを表面層25に埋め込んで形成する。例文帳に追加
In response to a gate electrode 15, a p-type layer 26a made of p-type AlGaAs is buried in the first barrier layer 24, and a p-type contact layer 26b made of p-type GaAs is buried in the surface layer 25. - 特許庁
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「障壁電極型」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 21件
ショットキー障壁ダイオードは、セミコンダクタ・オン・インシュレータ(SOI)基板内の第2の導電型のドーピングを有するドープ保護環(リング)を含み、さらにダミー・ゲート電極の一方の側の、第2の導電型とは反対型の第1の導電型のドーピングを有する第1導電型ドープ半導体領域を含み、そしてショットキー障壁構造部は他方の側がドープ保護環により囲まれる。例文帳に追加
A Schottky barrier diode comprises a doped guard ring having a doping of a second conductivity type in a semiconductor-on-insulator (SOI) substrate. - 特許庁
p型シリコン層5011上に、障壁層であるSiO_2 膜5012と、電荷保持担体である金属タングステン5014と、絶縁体層であるSiO_2膜5015と、電極層であるn型多結晶シリコン電極5016とが設けられている。例文帳に追加
An SiO_2 film 5012 serving as a barrier layer, metal tungsten 5014 serving as a charge holder/carrier, an SiO_2 film 5015 serving as an insulator layer, and an n-type polysilicon electrode 5016 serving as an electrode layer are provided on a p-type silicon layer 5011. - 特許庁
ウルツ鉱型結晶構造の半導体を用いた電界効果トランジスタで、電極との接触抵抗を高くすることなく、バンドギャップエネルギーのより大きな半導体から障壁層が構成できるようにする。例文帳に追加
To provide a field-effect transistor using a semiconductor with a Wurtzite crystal structure capable of forming a barrier layer out of a semiconductor having a greater bandgap energy, without increasing contact resistance with an electrode. - 特許庁
ベース電極とコレクタ半導体の電荷注入障壁の制御が可能である、高性能な縦型薄膜のトランジスタ素子および製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a high-performance longitudinal thin-film transistor element that can control a charge implantation barrier of a base electrode and a collector semiconductor, and to provide a method of manufacturing the same. - 特許庁
n因子を増加させることなく、ショットキー障壁高さを電力損失が最小となる範囲内において所望の値に制御可能な、ショットキー電極としてTa電極を用いた炭化珪素ショットキー接合型半導体素子およびその製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a silicon carbide Schottky junction semiconductor device capable of controlling a Schottky barrier height to a desired value, in a range of making a power loss minimum without increasing n-factors while using a Ta electrode as a Schottky electrode, and its manufacturing method. - 特許庁
窒化物半導体に生じる自発分極やピエゾ分極による大きな内部電界とAlN/GaN多重障壁層による共鳴トンネル効果を利用し、高密度電子を効率的に放出させる電子放出素子に関するもので、n型GaN上へAlN/GaN多重障壁層と数十ナノメートルのGaN表面層を作製し、電子取出用の表面電極を取り付けたものである。例文帳に追加
This is the electron emitting element which efficiently emits high density electrons by utilizing a large internal electric field by a spontaneous polarization and a piezo polarization generated in the nitride semiconductor and a resonance tunnel effect by an AIN/GaN multiplex barrier layer, and the AIN/GaN multiplex barrier layer and a GaN surface layer of dozens of nanometers are formed on the n-type GaN, and a surface electrode for electron extraction is fitted. - 特許庁
ULSIに有用なショットキー・トンネル接合を利用した電界効果型トランジスタ(ショットキー障壁型MOS FET )の製造において、ゲート電極やゲート絶縁膜の金属及び金属酸化物が高温プロセスにより劣化するのを防止する。例文帳に追加
To prevent a deterioration of a metal and a metal oxide of a gate electrode or a gate insulating film due to a high temperature process, in manufacturing a field effect transistor (Schottky barrier MOSFET) utilizing a Schottky tunnel junction useful for an ULSI. - 特許庁
放射線の検出媒体として、不純物を人工的にドープしない高純度InSb単結晶を用い、かつダイオード特性を得るため、Au・Pd合金を用いて表面障壁型電極を形成した半導体放射線検出器を製作する。例文帳に追加
The semiconductor radiation detector which uses a high-purity InSb single crystal with no impurities doped artificially as a detection medium of radiation and having a surface-barrier-type electrode, formed using an Au/Pd alloy to obtain diode characteristics, is manufactured. - 特許庁
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