意味 | 例文 (68件) |
試験にパスするの英語
追加できません
(登録数上限)
英訳・英語 pass an examination
「試験にパスする」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 68件
-
履歴機能過去に調べた
単語を確認! -
語彙力診断診断回数が
増える! -
マイ単語帳便利な
学習機能付き! -
マイ例文帳文章で
単語を理解!
Weblio例文辞書での「試験にパスする」に類似した例文 |
|
試験にパスする
to go up for the examination―appear at the examination
試験に合格すること
to go through an examination
to examine someone to measure their knowledge of a subject
What of the examination?
to go through an examination
試験勉強する
to study up for an examination―cram for an examination
to pass the examination
during the examination
to question someone for examination purposes
「試験にパスする」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 68件
また、試験実行部100は、試験シナリオに基づいて試験を実行したプログラム中のパスを、フローチャート上に明示して出力するようにしたので、試験済みのパスを視覚的に把握することができる。例文帳に追加
Because the test execution part 100 explicitly outputs a path inside the program executed with a test on the basis of the test scenario onto a flow chart, the already tested path can be visually grasped. - 特許庁
加入者回路に対して、オフフック検出機能の試験と音声パスの正常性の試験を一連の処理として行うことのできる加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラムを提供する。例文帳に追加
To provide a subscriber circuit testing device, subscriber circuit testing system, subscriber circuit testing method and subscriber circuit testing program which enable a test of an off-hook detection function and a test for the normality of a voice path to be applied to a subscriber circuit as a series of processing. - 特許庁
試験光源20の試験光出力経路に、試験光を透過すると共に試験光のサイドモードを抑制する誘電体多層膜型フィルタ(バンドパスフィルタ)22を設置する。例文帳に追加
A dielectric multilayer film type filter (band-pass filter) 22 for transmitting test light and suppressing a side mode of the test light is installed on a test light output route of a test light source 20. - 特許庁
このとき、PLLカウンタコピーは、LSIをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。例文帳に追加
At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method. - 特許庁
入口ノード10は、パス設定プロトコルに従って、パスを設定し、パスの設定が行われた後に、設定されたパスを指定して、試験信号を出口ノードに送信するし、出口ノードによって折り返し送信された試験信号を受信して、試験信号を解析して正常であるか判定する。例文帳に追加
An inlet node 10 sets a path according to path setting protocol, specifies the set path after the path setting completes to send a test signal to an outlet node, receives the test signal sent back by the outlet node and analyze the test signal to determine whether it is normal or not. - 特許庁
半導体試験装置100は、データジェネレータ12からDUT40に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ51で比較してパス/フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ18にバースト転送して試験効率を向上する。例文帳に追加
A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18. - 特許庁
バイパス通路24aは、動作試験時に切換えスイッチ24bをバイパスして制御回路12と第1電源ユニット22とを接続する。例文帳に追加
The bypass passage 24a bypasses the changeover switch 24b so as to connect a control circuit 12 and the first power supply unit 22 during the period of operation test. - 特許庁
|
意味 | 例文 (68件) |
|
ピン留めアイコンをクリックすると単語とその意味を画面の右側に残しておくことができます。 |
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |
「試験にパスする」のお隣キーワード |
weblioのその他のサービス
ログイン |
Weblio会員(無料)になると 検索履歴を保存できる! 語彙力診断の実施回数増加! |