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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 投射検査に関連した英語例文

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投射検査の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 37



例文

光学エンジンの投射検査装置、および光学エンジン例文帳に追加

PROJECTED IMAGE INSPECTION APPARATUS FOR OPTICAL ENGINE, AND OPTICAL ENGINE - 特許庁

プログラム化可能な高い投射角のビデオ検査用等の表面照明器例文帳に追加

SURFACE ILLUMINATOR FOR VIDEO INSPECTION AND THE LIKE HAVING PROGRAMMABLE HIGH PROJECTION ANGLE - 特許庁

検査物表面の形状を検査する表面形状検査装置において、被検査物表面へ投射する投射光を3種類以上に分割するフィルタの構成を単純なものとすることによって、表面形状検査装置を比較的簡単な構成とするように工夫すること。例文帳に追加

To relatively simply constitute a surface shape inspection device, by simplifying constitution of a filter for dividing a projection light projected to a surface of a specimen into three kinds or more, in the surface shape inspection device for inspecting a shape of the surface of the specimen. - 特許庁

従来の投射型表示装置の光学エンジンの検査装置よりも狭いスペースで検査が可能である投射検査装置を実現すること。例文帳に追加

To provide a projected image inspection apparatus capable of inspecting an optical engine in a space narrower than that for a conventional inspection apparatus of an optical engine of a projection display apparatus. - 特許庁

例文

また、判断処理で3次元検査を行う領域と判断した場合に、格子縞投射部で格子縞を投射させると共にその格子縞の投射位置をシフトさせながら、該当する検査領域を撮影部で複数回撮影して、その複数回撮影された画像から3次元形状を検査する。例文帳に追加

If it is determined to be an area to perform three dimensional inspection by the determination process, the inspection area is photographed a plurality of times by the photographing part while projecting the lattice fringe by a lattice fringe projection part and shifting the projection location of the lattice fringe, and the three dimensional shape is inspected from the image photographed a plurality of times. - 特許庁


例文

レンズアレイ基板の検査方法、レンズアレイ基板の検査装置、電気光学装置の製造方法、および投射型表示装置の製造方法例文帳に追加

INSPECTION METHOD AND DEVICE FOR LENS ARRAY SUBSTRATE AND MANUFACTURING METHODS FOR ELECTRO-OPTIC DEVICE, AND PROJECTION TYPE DISPLAY - 特許庁

受光素子に投射された光の位置にずれがあっても安定した検査を行うことができる受光素子検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a light receiving element inspection device capable of stable inspection even if the position of light projected to the light receiving element is deviated. - 特許庁

手間をかけずにレンズアレイ基板を検査することのできるレンズアレイ基板の検査方法、レンズアレイ基板検査装置、電気光学装置の製造方法、および投射型表示装置の製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an inspection method and an inspection device for a lens array substrate capable of inspecting the lens array substrate without any troubles, and provide manufacturing methods for an electro-optic device and a projection type display. - 特許庁

電気光学パネル100に表示した検査画像を投影面に投影する電気光学装置の検査装置であって、水平に置かれた電気光学パネル100に検査光を鉛直方向に透過させて投影面17に投射する検査光学系5を備えたものである。例文帳に追加

The device for inspecting an electrooptical device projects an inspection image displayed on an electrooptical panel 100 onto a projection face, and is equipped with an inspection optical system 5 wherein inspection light is made to transmit the horizontally set electrooptical panel 100 in a vertical direction and projected onto the projection surface 17. - 特許庁

例文

結像特性が既知の投射光学系と被検査光学系とからなる合成光学系の光学特性を測定し、その測定された光学特性から投射光学系の光学特性を演算により取り除くことにより、被検査レンズの光学特性を推定することができるレンズ検査方法およびレンズ検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a lens inspection method and a lens inspection system which allow the estimation of the optical characteristics of a lens to be inspected by measuring the optical characteristics of a composite optical system comprising a projection optical system of which the image-forming characteristics are known and an optical system to be inspected and removing the optical characteristics of the projection optical system from the measured optical characteristics through operations. - 特許庁

例文

所定の色、強度に調整された光は、投射レンズにより撮像素子に照射され、撮像素子の性能が検査される。例文帳に追加

The light of the predetermined color and intensity is radiated to the imaging element by a projection lens, and the performance of the imaging element is inspected. - 特許庁

3次元画像化、特にマンモグラフィにおける診断方法において、検査対象の投射撮影が作成されて電子的な形で記憶される。例文帳に追加

In this diagnostic method for three-dimensional imaging, especially in mammography, a projection image of a subject to be a tested is prepared and stored in an electronic form. - 特許庁

ファイバ照明を用いた新しい照射方法による投射映像の画質調整・検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an image quality adjustment/inspection method for a projection image by a new irradiation method using fiber illumination. - 特許庁

レンズアレイ基板の検査方法、電気光学装置の製造方法、および投射型表示装置の製造方法例文帳に追加

METHOD OF INSPECTING LENS ARRAY SUBSTRATE, METHOD OF MANUFACTURING ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROJECTION TYPE DISPLAY - 特許庁

実機に即した表示パネルの入射角度及び投射レンズの取込み角度による表示検査を可能にする。例文帳に追加

To realize display inspection according to the incident angle of a display panel and the fetching angle of a projection lens adapted to a projection device. - 特許庁

検査台11には製品が載置されるとともに、プロジェクタ13からこの製品に係る見本の映像が見本映像として投射される。例文帳に追加

A product is placed on an inspection stand 11 and the image of the sample related to the product is projected as a sample image from a projector 13. - 特許庁

図1に示すように、被検査体1のリング状製品の側部側の背後からリング面1aに照明4を投射した。例文帳に追加

As shown in Fig.1, an illumination 4 is projected from the back of the side part of the ring shaped product, an object to be inspected 1, onto a ring face 1a. - 特許庁

ショットピーニングやショットブラストの表面加工処理において、対象物の狭隘部の投射カバレージの目視による検査を可能とし、投射カバレージ確認試験の実施コストを低減し、かつ、測定精度を向上させる。例文帳に追加

To inspect a projection coverage of a narrow part of an object by means of visual observation; to reduce operation cost of a projection coverage confirming test; and to improve measuring accuracy in surface processing treatment of shot peening and a shot blast. - 特許庁

外観検査装置10は、周期的に明るさが変化する第1縞パターンを異なる複数の位相で被検査体に投射して複数の第1投影画像を撮像する。例文帳に追加

A visual inspection device 10 projects a first stripe pattern whose brightness periodically changes onto an inspection object in multiple different phases and images multiple first projection images. - 特許庁

外観検査装置10は、第1縞パターンとは異なる周期で明るさが変化する第2縞パターンを異なる複数の位相で被検査体に投射して複数の第2投影画像を撮像する。例文帳に追加

The visual inspection device 10 projects a second stripe pattern whose brightness changes at a cycle different from the first stripe pattern onto the inspection object in multiple different phases and images multiple second projection images. - 特許庁

設置面積が少なくて済み、投射レンズとスクリーン間から反射鏡を省け、しかも点欠陥等を自動検出可能な電気光学装置の検査装置及びその検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a device for inspecting an electrooptical device which can be installed in a small area, dispense with a mirror between a projection lens and a screen, and automatically detect spot defects or the like, and to provide a method for inspecting the electrooptical device. - 特許庁

この投射した照明4による被検査体1のシルエットを、被検査体1に対して照明4と反対側の対称の位置に設置したCCDカメラ5で撮影した。例文帳に追加

The silhouette of the object to be inspected 1 by the projected illumination 4 is photographed by a CCD camera 5 disposed in the symmetrical place of the opposite side of the illumination 4 against the object to be inspected 1. - 特許庁

放射線を発生させるステアリング放射線電子管1と、ステアリング放射線電子管1から検査対象への投射により得た複数の放射線投射像を可視像に形成し可視像の投影される可視映像面を備える映像増倍管5と、を含む放射線検査システム及びこれを用いた検査方法に関する。例文帳に追加

This radiation inspection system contains a steering radiation electron tube 1 for generating radiation and an image multiplication tube 5 having a visual image screen for forming a plurality of radiation projected images obtained by the projection from the steering radiation electron tube 1 to an object to be inspected, which has a visual image face for projecting the visual image, and the inspection method using this system is also provided. - 特許庁

実際に検査される粒状体群からの反射光や透過光の光量についての光量分布に適合させて、投射部材から投射される光の光量を適正な状態に調整することにより、不良物を判別するときの精度を向上させる。例文帳に追加

To improve accuracy of determination of a defective object by adjusting the quantity of light projected from a projection member into a proper state by adapting it to a light quantity distribution of the quantity of reflected light or transmitted light from a powder-and-grain group to be actually inspected. - 特許庁

検査装置10は、照明光Lを投射する照明光源11と、照明光源11から投射された照明光Lを透過させる第1の吸収型直線偏光層12及び第2の吸収型直線偏光層13とを備えている。例文帳に追加

The inspection apparatus 10 is equipped with an illumination light source 11 which projects illumination light L, and a first absorption type linearly polarizing layer 12 and a second absorption type linearly polarizing layer 13 which transmit the illumination light L from the light source 11. - 特許庁

検査装置10は、照明光Lを投射する照明光源11と、照明光源11から投射された照明光Lを反射する反射層14と、照明光源11と反射層14との間に配置された吸収型直線偏光層12とを備えている。例文帳に追加

An inspection apparatus 10 is equipped with: an illumination light source 11 which projects illumination light L; a reflecting layer 14 which reflects illumination light L from the light source 11; and an absorption type linearly polarizing layer 12 disposed between the light source 11 and the reflection layer 14. - 特許庁

また第1光束の進行方向の経路上に前記第1光束を第1サブ光束と第2サブ光束に分けるための分光装置を設置し、そのうち前記第1サブ光束を前記照射口の位置にある検査用太陽電池に向けて投射させて、太陽電池検査装置として使用する。例文帳に追加

A spectral device is provided on the path in the progression direction of the first light flux to divide the first light flux into a first sub light flux and a second sub light flux, and the first sub light flux is projected to a solar cell for inspection positioned at the irradiation port to use as a solar cell inspection device. - 特許庁

眼科検査装置1は、眼底に光を投射し、その反射光を検出し、この検出結果に基づいて網膜の形態を表す3次元画像を形成する。例文帳に追加

An ophthalmologic examination apparatus 1 projects light to a fundus, detects its reflected light, and forms a three-dimensional image representing a form of the retina on the basis of results of this detection. - 特許庁

遮光板33のピンホール34またはスリットの縁部の明暗境界部を介して到達した光が検査対象レンズ25を介してほぼ平行光としてCCDカメラ36側へ投射される例文帳に追加

The light arriving through the light and shade boundary part of the edge part of the pinhole 34 or slit of the light-shielding plate 33, is projected to the CCD camera 36 as almost parallel light via the lens 25 to be inspected. - 特許庁

つまり、投射光学系や撮像レンズが使用されないので、撮像画像が劣化することを大幅に低減でき、また、被検査パネル2の画像形成面など一部だけに撮像対象が限定されることがない。例文帳に追加

That is, since a projection optical system and an imaging lens are not used, a deterioration of a pick-up image can significantly be reduced and an object to be images can be applied not only to the image forming surface of the panel 2 but also other areas. - 特許庁

検査物体としての海苔41には、波長の異なる投射光が当てられ、一次元走査カメラによる透過光の撮像出力として(ロ)および(ハ)に示す波形が得られる。例文帳に追加

A body to be inspected, i.e., a laver 41, is irradiated with lights of different wavelength to obtain second and third waveforms, shown on the drawing, as the images of transmitted light picked up by means of a one- dimensional scanning camera. - 特許庁

可変絞り機構の着脱が可能で、可変絞り機構単体で組立や調整、検査を行うことができ、故障時に容易に交換作業を行うことができる投射光学系ユニットを提供する。例文帳に追加

To provide a projection optical unit where a variable diaphragm mechanism can be attached/detached, and the variable diaphragm mechanism can be independently assembled, adjusted, and also, inspected, further, the mechanism can be easily replaced upon the glitch. - 特許庁

被検眼Eの前方には検査媒体発生検出部120が配置されており、この検査媒体発生検出部120は被検眼Eの角膜Ecに対して、圧縮空気ARを噴射し、また角膜変形を検出するための検査媒体である光束Lを投射し、角膜Ecからの検出媒体である反射光LRを受光する。例文帳に追加

An inspection medium generation and detection part 120 is arranged in the front of a subject eye E, and the inspection medium generation and detection part 120 blows compressed air AR and projects a luminous flux L as an inspection medium for detecting the corneal deformation to the cornea Ec of the eye E, and receives the reflected light R that is the detection medium from the cornea Ec. - 特許庁

スクリーンに正対する方向から前記スクリーンを撮影する撮影装置と、前記スクリーンに対して前記正対する方向より斜めの方向から光を投射する投射装置と、前記撮影装置から得られる前記スクリーンの撮影画像に基づき、前記スクリーンの局所的歪みに起因する明るさムラの程度を判定する画像処理装置とによってスクリーン検査システムを構成する。例文帳に追加

The screen inspection system includes a photographic device for photographing the screen from the direction facing the screen; a projecting device for projecting light from an oblique direction of the direction facing the screen; and an image processor for determining the degree of unevenness in the brightness, resulting from the local strain of the screen based on the photographed image of the screen obtained from the photographic device. - 特許庁

産業廃棄物を溶融して形成されるスラグを粉砕して成る溶融スラグペレット2と発泡ウレタン樹脂ペレット8と結合用バインダ13とを混練装置9によって混練し、その混練状況が均等になっているかを検査する混練検査装置14に通して均等に混練されたものを取り出すブラスト投射材1の製造方法とする。例文帳に追加

The method of manufacturing a blast projection material 1 comprises the steps of kneading, by a kneading apparatus 9, molten slag pellets 2 including fractured pieces of slag formed by melting industrial waste, foaming urethane resin pellets 8, and binder 13 for connection; and taking out the uniformly kneaded matter through a kneading checking apparatus 14 for detecting whether or not a kneaded state is uniform. - 特許庁

次いで,反射型レーザーセンサ24からプリント配線板1の上面13へレーザー光5を投射すると共にその反射光51を受光して,反射型レーザーセンサ24とプリント配線板1の上面13との間の距離を測定することにより,プリント配線板1のピンの良否を検査する。例文帳に追加

By receiving its reflected light 51 and measuring the distance between the reflection-type laser sensor 24 and the upper surface 13 of the printed wiring board 1, the quality of the pins of the printed wiring board 1 is inspected. - 特許庁

例文

偏光板貼付前の液晶セル基板8の欠陥検査を行う際、バックライト照明11を消灯すると共に同軸落射照明7によって液晶セル基板8を上方から投射し、シール剤塗布部の画像を取得する。例文帳に追加

Back light illumination 11 is put out and a liquid crystal cell substrate 8 is projected from above by coaxial vertical illumination 7, by which the image of the part coated with a sealing material is acquired when carrying out the defect inspection of the liquid cell substrate 8 before sticking of the polarizing plate with this cell inspection apparatus. - 特許庁

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