テストè¨è¨ˆæ›¸ã‚’書ã“ã†ï¼ - 抜ã‘æ¼ã‚Œã®ãªã„テストè¨è¨ˆæ›¸ãƒ†ãƒ³ãƒ—レートã®æ案 - テストè¨è¨ˆæ›¸ã‚’書ã“ã†ï¼ - 抜ã‘æ¼ã‚Œã®ãªã„テストè¨è¨ˆæ›¸ãƒ†ãƒ³ãƒ—レートã®æ案 - NEC SWQCテスト技術コミュニティ æ‰ç”° æ£å®Ÿï¼ˆæ—¥æœ¬é›»æ°—é€šä¿¡ã‚·ã‚¹ãƒ†ãƒ æ ªå¼ä¼šç¤¾ï¼‰ å‰æ¾¤ åƒä½³åï¼ˆæ—¥æœ¬é›»æ°—æ ªå¼ä¼šç¤¾ï¼‰ © NEC Corporation 2009 Page 2 SWQCテスト技術コミュニティã®ç´¹ä»‹(1) NECグループã®SWQC活動ã¨ã—ã¦ã€ãƒ†ãƒ¼ãƒžåˆ¥ã‚³ãƒŸãƒ¥ãƒ‹ãƒ†ã‚£æ´»å‹•ä¸ï¼ テスト技術コミュニティã¯ã€ç‰¹ã«ã‚½ãƒ•ãƒˆã‚¦ã‚§ã‚¢ãƒ†ã‚¹ãƒˆã«èˆˆå‘³ã‚’æŒã£ãŸ メンãƒãƒ¼ã§æ§‹æˆã•ã‚Œã¦ã„ã¾ã™ã€‚ SWQC活動:NECã«ãŠã‘るソフトウェアã®ç·åˆçš„å“質管ç†æ´»å‹•ï¼ˆ1981å¹´ã«é–‹å§‹ï¼‰ ç¾åœ¨ã¯çµ„織を超ãˆã¦SW開発技術者ãŒåˆ‡ç£‹ç¢ç£¨ã™ã‚‹å ´ã¨ã—ã¦æ´»å‹•ä¸ © NEC Corporation 2009 Page 3 SWQCテスト技術コミュニティã®ç´¹ä»‹(2) 活動状æ³ã¨ãƒ¡ãƒ³
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