意味 | 例文 (999件) |
欠測の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1202件
予測性を欠いていること例文帳に追加
lacking predictability - 日本語WordNet
結晶欠陥計測装置例文帳に追加
CRYSTAL DEFECT MEASURING DEVICE - 特許庁
欠陥の測定方法例文帳に追加
DEFECT MEASURING METHOD - 特許庁
間欠測位方法及び測位装置例文帳に追加
INTERMITTENT POSITIONING METHOD AND DEVICE - 特許庁
間欠測位装置及び測位方法例文帳に追加
INTERMITTENT POSITIONING SYSTEM AND THE POSITIONING METHOD - 特許庁
欠陥予測システム及び欠陥予測方法例文帳に追加
FLAW ESTIMATING SYSTEM AND METHOD - 特許庁
行列形データの欠損値予測装置、欠損値予測計算方法および欠損値予測プログラム例文帳に追加
PREDICTION DEVICE OF MISSING VALUE IN MATRIX DATA, METHOD FOR CALCULATING MISSING VALUE PREDICTION, AND MISSING VALUE PREDICTION PROGRAM - 特許庁
彼の欠席への推測される理由例文帳に追加
the assumed reason for his absence - 日本語WordNet
間欠衛星信号測位システム例文帳に追加
前面板欠陥測定装置例文帳に追加
FRONT PLATE DEFECT MEASURING APPARATUS - 特許庁
欠陥寸法測定装置、欠陥寸法測定方法、及びプログラム例文帳に追加
DEFECT DIMENSION MEASURING APPARATUS, DEFECT DIMENSION MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM - 特許庁
超音波による欠陥高さ測定装置及び欠陥高さ測定方法例文帳に追加
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING FLAW HEIGHT BY ULTRASONIC WAVE - 特許庁
計測装置、欠陥検査装置及び計測方法例文帳に追加
MEASURING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND MEASUREMENT METHOD - 特許庁
材料表面欠陥測定方法および測定装置例文帳に追加
MATERIAL SURFACE DEFECT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE - 特許庁
欠陥全長測定手段10は欠陥位置情報及び欠陥の面積から欠陥の全長を測定する。例文帳に追加
A defect-full-length measuring means 10 measures the entire length of the defect based on the defect position information and the area of the defect. - 特許庁
欠損サイズ算出部18fは、欠損構成点に基づいて欠損のサイズを計測する。例文帳に追加
A defect size calculation part 18f measures the size of the defect on the basis of the defect structure point. - 特許庁
欠損サイズ算出部18fは、欠損構成点に基づいて欠損のサイズを計測する。例文帳に追加
A deficit size calculation part 18f measures the size of the deficit based on the deficit constituting points. - 特許庁
行列形データにおける欠損値の予測精度を向上できる欠損値予測装置を提供する。例文帳に追加
To provide a deficit value prediction device for improving accuracy in predicting a deficit value in matrix shape data. - 特許庁
光学素子の球欠深さを高精度に測定することができる球欠深さ測定器を提供する。例文帳に追加
To provide an instrument that can precisely measure the depth of a sagittal depth of an optical element. - 特許庁
位相差測定回路30が位相差測定を間欠的に行なう。例文帳に追加
A phase difference measuring circuit 30 intermittently measures phase difference. - 特許庁
計測部62は、欠陥候補ランドの画素数を計測する。例文帳に追加
A measurement part 62 measures the number of pixels in the defect candidate land. - 特許庁
空間座標値測定方法及びその測定装置並びに欠陥検査装置例文帳に追加
SPACE COORDINATE VALUE MEASURING METHOD, ITS MEASURING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE - 特許庁
面精度測定及び表面欠陥観察装置、面精度測定及び表面欠陥観察方法、並びに面精度及び表面欠陥の検査方法例文帳に追加
PROFILE IRREGULARITY MEASURING AND SURFACE DEFECT OBSERVING APPARATUS, PROFILE IRREGULARITY MEASURING AND SURFACE DEFECT OBSERVING METHOD, AND PROFILE IRREGULARITY AND SURFACE DEFECT INSPECTING METHOD - 特許庁
測定においては正確さは欠かせないものである。例文帳に追加
Precision in measurement is a necessity. - Tatoeba例文
測定においては正確さは欠かせないものである。例文帳に追加
Precision in measurement is a necessity. - Tanaka Corpus
試料の内部欠陥を高い分解能で測定する。例文帳に追加
To measure an internal defect of a sample with high resolution without breaking the sample. - 特許庁
欠球の研削中心残り測定方法及び装置例文帳に追加
METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF GRINDING CENTER RESIDUE OF CHIPPED SPHERE - 特許庁
形状計測装置及び欠陥検査方法例文帳に追加
SHAPE MEASURING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD - 特許庁
単結晶の欠陥密度測定方法例文帳に追加
低周波電磁誘導式の欠陥測定装置例文帳に追加
LOW-FREQUENCY ELECTROMAGNETIC INDUCTION TYPE DEFECT MEASURING APPARATUS - 特許庁
凝固欠陥予測解析の精度検証方法例文帳に追加
METHOD FOR VERIFYING PRECISION OF SOLIDIFICATION DEFECT PREDICTION ANALYSIS - 特許庁
表面欠陥測定方法およびレンズ製造方法例文帳に追加
SURFACE DEFECT MEASUREMENT METHOD AND LENS MANUFACTURING METHOD - 特許庁
間欠塗工ピッチ測定検査装置例文帳に追加
INSPECTION AND MEASUREMENT APPARATUS FOR INTERMITTENT COATING PITCH - 特許庁
胸壁欠損量計測方法およびファントム例文帳に追加
CHEST WALL DEFECT AMOUNT MEASUREMENT METHOD AND PHANTOM - 特許庁
欠陥深さ測定方法および装置例文帳に追加
FLAW DEPTH MEASURING METHOD AND ITS DEVICE - 特許庁
欠測値推定部105において、欠測値選択部106で行列Wの1つの欠測値を選択し、その欠測値を推定するための行列Wの部分行列を部分行列作成部107で作成し、初期値設定部108で欠測値の初期値を設定する。例文帳に追加
In a missing value estimation part 105, a missing value selection part 106 selects one missing value in the matrix W, a partial matrix preparing part 107 prepares a partial matrix out of the matrix in order to estimate the missing value and an initial value setting part 108 sets up the initial value of the missing value. - 特許庁
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