sample-roomとは 意味・読み方・使い方

To avoid changing the magnetic field in a sample room against the calorific value variation in response to a pattern writing operation, and reduce the temperature change of a sample, stage structural members and sample room structural members.例文帳に追加

描画動作に応じた発熱量変化があっても、試料室の中に磁場変化を生じることなく、試料、ステージ構造部材、試料室構造部材の温度変化を低減すること。 - 特許庁

After heat treatment, the sodium hydroxide solution 2 is allowed to cool at a room temperature to obtain a sample solution 5 (c).例文帳に追加

加熱処理後、室温で放冷して試料溶液５を得る（ｃ）。 - 特許庁

In the inspection device equipped with a sample room 10 and the auxiliary exhaust room, a sample 1 held on a sample holder 2 is arranged inside the auxiliay exhaust room 20 before the auxiliary exhaust room is vacuum piped, an atmospheric side gate valve 22 is closed, an intake valve 28 is opened, and dry nitrogen of 2 to 4 atm. is guided into the auxiliary exhaust room.例文帳に追加

試料室１０と予備排気室２０とを備えた検査装置において、予備排気室２０内を真空排気する前に、試料ホルダ２上に保持された試料１を予備排気室２０内に配置し、大気側ゲート弁２２閉じ、給気弁２８を開け、２〜４気圧の乾燥窒素を予備排気室２０内に導入する。 - 特許庁

To provide a sample flow type compact high-temperature and high- pressure sample-holding unit which can be set in a commercially available spectrophotometer for room temperatures.例文帳に追加

市販の室温用分光光度計内に配置し得る、試料流通型小型高温高圧試料保持ユニットの提供 - 特許庁

A limiter switch 31 is attached to a side face of a sample room 2 except for the lid 14.例文帳に追加

蓋１４を除く試料室２の側面にリミッタスイッチ３１が取り付けられている。 - 特許庁

An EPMA 10 is provided with a sample room 12 for housing a sample, an electron gun portion 16 equipped with an electron gun 14 for irradiating electron beams on the sample in the sample room 12, and a condenser lens 18 for controlling electron beams emitted from the electron gun 14.例文帳に追加

本発明に係るＥＰＭＡ１０は、試料を収容する試料室１２、試料室１２内の試料に対して電子線を照射するための電子銃１４を備えた電子銃部１６、電子銃１４から放射される電子線を制御するコンデンサレンズ１８を備えている。 - 特許庁

To prevent that an observation sample or a structure part in a sample room are damaged since the observation sample is contacted with the structure part in the sample room by an economic and simple constitution and system in which a large structural change of a charged particle beam device provided with an existing retarding function is suppressed.例文帳に追加

既存のリターディング機能を備えた荷電粒子線装置の大幅な構造変更を極力抑えた経済的かつシンプルな構成及びシステムで、観察試料が試料室内の構造部に接触して観察試料又は試料室内の構造部が破損してしまうのを防止する。 - 特許庁

As a result, the shadow of the goods sample 13 is not formed on a surface of the inclined plate 12b and the appearance of a goods sample room 11 is not worsened by the shadow of the goods sample 13.例文帳に追加

これにより、傾斜板１２ｂの表面には商品サンプル１３の影ができず、商品サンプル１３の影によって商品サンプル室１１の見栄えが悪くなることがない。 - 特許庁