複針プローブの英語

プローブ装置２０の下部には、複数のプローブ針２５を固定するプローブ針固定具２６が設けられ、このプローブ針固定具２６は、Ｚ軸方向に移動できる。例文帳に追加

In the lower part of the probe device 20, a probe needle fixture 26 which fixes two or more probe needles 25 is formed so that the probe needle fixture 26 can move in the Z direction. - 特許庁

プローブ装置は、複数のプローブと、該プローブがその針中央領域を対向させ、左右方向に間隔をおいて及び前後方向へ延びる状態に配置されたプローブホルダとを備えるプローブ組立体を含む。例文帳に追加

The probe device includes a probe assembly including a plurality of probes and a probe holder wherein the probes are disposed at intervals in the lateral direction and in an extendible manner in the fore-and-aft direction with their needle central regions opposed. - 特許庁

プローブユニットは、板状のプローブベースと、該プローブベースの上に配置された支持台と、該支持台に支持されたプローブ装置であって、先端針先及び後端針先を有する複数のプローブを備えるプローブ装置と、該プローブ装置から後方へ延びる電気的接続具であって、前後方向へ延びる複数の配線を有し、かつ各配線の先端部が後端針先に接続された電気的接続具とを含む。例文帳に追加

The probe unit includes: a plate-like probe base; a support base arranged on the probe base; a probe device that is supported by the probe base and has multiple probes with front-end needlepoints and back-end needlepoints; and an electrical connection accessory that extends from the probe device toward the backside and has multiple wires extending in the anteroposterior direction with the front edge of each wiring connected to the back-end needlepoint. - 特許庁

プローブカードの構造を複雑にせず、更に、電極部に対し確実にプローブ針を接触させ外れる頻度を減らし、正確な電気特性検査ができるプローブカード及びプローブカードの測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a probe card capable of accurately inspecting electric characteristics of an object by avoiding the structure of the probe card from being complicated and surely contacting a probe needle with an electrode part so as to decrease the frequency of withdrawal, and to provide a measuring method using the same. - 特許庁

プローブ針が一の電極パッドに複数回接触する場合においてもプローブ針の接触位置の位置ずれを適切に補正することで、プローブ針の接触位置を常に最適に保つこと。例文帳に追加

To maintain optimal contact positions of probe needles at all times by appropriately correcting position displacements of the contact positions of the probe needles even in the case that the probe needles come into contact with one electrode pad a plurality of times. - 特許庁

相対移動後の複数のチップに対して、各組に属するプローブ針２０５、２０６を同時に接触させ、先行する組に属するプローブ針が接触していたチップに、後続の組に属するプローブ針を接触させる。例文帳に追加

The probes 205, 206 under each groups are made simultaneously to contact with a plurality of chips relatively moved, and the probes under the following group are made to contact with the chip which the probes under the proceeding group contact with. - 特許庁

複数のプローブ針１０２ａ，１０２ｂは、プローブカード基板１０１に異なる密度で実装されていてもよい。例文帳に追加

The plurality of probe needles 102a and 102b may be mounted to the probe card substrate 101 with different densities. - 特許庁