上海博达数据通信有限公司

博达通信(以下简称博达)成立于1994年,是家集研发、生产、销售于体的高新技术企业。

从自主研发中国*块X.25网卡和*台商业化路由器开始,博达就一直站在网络技术的前沿,始终如一的专注和创新,成就了专业网络科技。迄今为博达的以太网交换机、路由器、XPON产品、无线产品、网络安全业通信产品已广泛应用于运营商、广电、电力、轨道交通、政府、金融、教育、医疗等诸多领域,有超过10000个重点客户,帮助他们在互联网信息时代实现跨越式发展。

经过近二十多年的技术积累，内部成立了正规的实验室，实验室现对外开放

测试平台 · 成熟完善

技术人员 · 经验丰富

测试设备 · 种类齐全

优质服务 · 定向可靠

提供设备出租业务和硬件测试服务

① 测试设备租赁业务

提供各种测试设备出租及电磁兼容性EMC场地出租，设备品牌齐全，包括：HP、Tektronix、Spirent、LeCroy、Litpoint、Fluke、Prima等国内外品牌。

② 硬件测试外包服务

搭建了成熟完善的测试平台，可以满足从电子元器件、硬件单板到整机系统等各种电子产品的测试需求，根据您自身的测试需要，灵活搭配，多重组合，量身而定，方便快捷地满足了您的现实测试需求，节约大量时间和金钱，一举多得。

硬件测试服务

      电路板SI PI 信号完整性 低速 高速信号 及接口一致性测试服务、POE性能 Sifos测试服务 IEEE802.3AT/AF协议一致性、网络协议、性能测试 以太网标准 RFC2544 Spirent TestCenter、POE受电设备 PD协议一致性 SIFOS测试 性能参数综合分析、电磁兼容性 EMC实验室 传导场地出租 电磁抗扰度 测试服务、高低温 环境和可靠性测试服务 温度试验 寿命试验、以太网IEEE802.3标准化测试服务10/100/1000M 2.5G/5G/10G BASE-T。

电路板测试服务

主要是单板的SI信号完整性测试、PI电源完整性测试、和各种接口一致性测试服务。

信号完整性（SI, Signal Integrity），定义为信号在电路中能以正确时序和电压做出回应的能力。广义上讲，信号完整性指的是在高速产品中由互连线引起的所有问题。SI解决的是信号传输过程中的质量问题，尤其是在高速领域，数字信号的传输不能只考虑逻辑上的实现。主要有Clock测试、I2C测试、SMI测试、SPI测试、Flash测试、SATA测试、DDR2/3/4测试、PCIe测试、RGMII测试、SGMII测试、XSGMII测试、PSGMII测试、USB2.0/3.0/3.1测试、URAT测试、SFP+测试、QSFP测试、SFI测试、HDMI测试、DVI 测试、LVDS测试、EDP测试等。

电源完整性（PI，Power Integrity），是确认电源来源及目的端的电压及电流是否符合需求。电源完整性涉及的层面包括芯片层面、芯片封装层面、电路板层面及系统层面。主要有电压值（精度）、缓启动电路参数、时序、噪声/纹波、电流和冲击电流、电压上下波形等项目。

接口一致性测试，主要有以太网、PCIe、Display Port、USB2.0/3.0/3.1、HDMI 、MIPI、DDR2/3/4、SATA、DVI、LVDS、EDP等接口。

电磁兼容性EMC测试服务

     一方面是电磁干扰能力EMI (Electro Magnetic Interference)测试，参考EN 55022/CISPR22、EN 55032/CISPR32、GB/T 9254等标准。主要有传导发射Conducted Emission。

     另一方面是电磁抗干扰能力EMS (Electro Magnetic Susceptibility)测试，参考标准EN 55024/CISPR24、EN 55035/CISPR35、IEC/EN 61000-4系列、GB/T 17626系列等标准。主要有

静电放电抗扰度
Electrostatic discharge immunity电快速瞬变脉冲群抗扰度
Electrical fast transient/burst immunity浪涌冲击抗扰度
Surge immunity射频场感应的传导骚扰抗扰度
Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields工频磁场抗扰度
Power frequency magnetic field immunity交流电源暂降、暂时中断抗扰度
AC Voltage dips, short interruptions and voltage阻尼振荡波抗扰度Oscillatory Waves直流电源暂降、暂时中断抗扰度
DC Voltage dips, short interruptions and voltage variations