biprismとは 意味・読み方・使い方

To provide an electron beam biprism having a large deflection angle of an electron beam per applied voltage.例文帳に追加

印加電圧当たりの電子線の偏向角が大きな電子線バイプリズムを提供する。 - 特許庁

Then, a double-biprism interference optical system is constructed of a lower-stage electron beam biprism arranged downstream side of the objective lens up to the first image plane of the specimen.例文帳に追加

そして対物レンズの下流側に下段の電子線バイプリズムを配置させることにより、試料の第１像面までで２段バイプリズム干渉光学系を構成する。 - 特許庁

A first electron-beam biprism is set in an irradiation optical system, and two electron beams with different angles are irradiated on an observation area of the sample at the same time.例文帳に追加

照射光学系中に第１の電子線バイプリズムを設置し、角度の異なる２つの電子線を試料の観察領域に同時に照射する。 - 特許庁

An upper-stage electron beam biprism is arranged at further upstream side in a progress direction of an electron beam than a specimen, and an image of the electron beam biprism is formed on the specimen (on an object plane) with the use of an imaging action of an upstream side magnetic field of an objective lens.例文帳に追加

試料より電子線の進行方向の上流側に上段の電子線バイプリズムを配置するとともに、対物レンズの前方磁界の結像作用を利用して、試料上（物面上）に電子線バイプリズムの像を結像させる。 - 特許庁

To provide an electron beam biprism device which can far simply and speedily perform a replacement operation of a line electrode and thrat the line electrode more easily.例文帳に追加

線電極の交換作業をより一層簡単にかつ迅速にできるとともに、線電極の取扱いをより簡単にできる電子線バイプリズム装置を提供する。 - 特許庁

The present invention is for observation by an interference microscopic image by a two-step electron-beam biprism interferometer.例文帳に追加

従来の電子線干渉計測法では、電子線バイプリズムの極細線電極から発生するフレネル縞が取得画像ごとに変化して干渉像に重畳されるため、新たなアーティファクトの原因となり、高精度な再生像を得るには至っていない。 - 特許庁

To observe or inspect a sample by correctly selecting the desired position for observation or inspection and to prevent a filament from being cut in an electron beam biprism device.例文帳に追加

電子線バイプリズム装置において、試料の観察または検査したい場所を正確に選択して観察または検査できるようにし且つフィラメントの切断が発生しないようにすること。 - 特許庁

Superimposing effect of deflection of each filament electrode by piling filament electrodes of the electron beam biprism in multistage in an optical axis direction totally gives a large deflection angle to the electron beam.例文帳に追加

光軸方向に電子線バイプリズムのフィラメント電極を多段に重ねることにより、それぞれのフィラメント電極がもつ偏向の効果を重ね合わせ、全体として電子線に大きな偏向角を与える。 - 特許庁