欠準位の英語

欠陥部３００は、欠陥に起因するエネルギー準位が所定の発光スペクトル内に存在するように設定されている。例文帳に追加

The defect 300 is set so as to exist within the light emission spectrum having a prescribed energy level resulting from defects. - 特許庁

演算手段には、欠陥の種類に応じて予め設定された切断位置に関する判断基準が記憶されており、演算手段は、欠陥検査手段から出力された欠陥の種類と、判断基準とに基づき、仮の切断位置を切断位置とするか、或いは、欠陥検査手段から出力された欠陥の位置を切断位置とするかを決定する。例文帳に追加

A criterion of the cutting position previously set in accordance with the type of defect is stored in the arithmetic means, which decides, based on the type of defect outputted from the defect inspecting means and on the criterion, which is to be the cutting position, the tentative cutting position or the position of the defect outputted from the defect inspecting means. - 特許庁

次いで、マスク欠陥修正装置でマーカ３０を検出すると共に、該マーカ３０の位置を基準にして欠陥２０を修正する。例文帳に追加

Subsequently, the marker 30 is detected by the mask defect correction device, and the defect 20 is corrected with reference to the position of the marker 30. - 特許庁

個々の結晶欠陥やプロセス起因欠陥のエネルギー準位を個別に見ることができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning probe microscope capable of observing individually an energy level of each crystal defect or each defect caused by a process. - 特許庁

基準となった原点Ｍと組合せをなす記号を示す記号情報と、算出した欠陥座標を示す欠陥座標情報とを含む欠陥位置情報を生成する。例文帳に追加

Defect position information including sign information for showing signs combined with the reference home position M and defect coordinate information showing the calculated defect coordinates are generated. - 特許庁

水素を含む気体中での加熱処理により、水素が化学酸化膜５における界面準位や欠陥準位と反応することでそれらが消滅する。例文帳に追加

Since heat treatment is performed in the atmosphere containing hydrogen, hydrogen reacts with boundary levels and defect levels formed in the chemical oxide film 5, so that these levels disappear. - 特許庁

ここで、どの差画像データにおいても共通の位置に同様の形状で検出された欠陥は、基準チップＡ４０１の欠陥（チップ左下端の欠陥）と判断できる。例文帳に追加

In this case, defects detected in the similar shape at a common position in any differential image data can be determined to be defects (defects at the lower left end of the chip) of the reference chip A401. - 特許庁

欠陥部位色判定部７は、算出されたプロファイル値の変化を表す変化パターンに基づいて、基準位置リストを作成する。例文帳に追加

A defective region color determination unit 7 creates a reference position list based on a change pattern representing a change in the calculated profile value. - 特許庁